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利扬芯片:已完成全球第一颗3nm芯片的测试开发

来源:东方财富 时间:2022-07-09 09:15   阅读量:5356   

阳芯片7月8日在互动平台回答投资者提问时介绍,最近几年来,公司在高端芯片领域不断加大测试和R&D的投入特别是公司的计算芯片测试技术,针对先进制造工艺的离散问题提供了一整套测试解决方案,重点解决功耗比,芯片内阻,大电流测试电路,测试温度控制等关键技术难点前期已为多家客户提供8nm和5nm芯片产品的量产测试服务目前,3nm先进工艺技术的芯片测试方案已调试成功,标志着公司已完成全球首款3nm芯片的测试研发,将有序推进到量产测试阶段

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